Elektronenmikroskope

Wir haben ständig eine Auswahl gebrauchter Geräte im Angebot 

                                                                                                                 

Rasterelektronenmikroskope / Heiztische / Sputteranlagen

Chamber View-Infrarot Kamera´s

Wir bieten gebrauchte Rasterelektronen-Mikroskope, ( REM ) an. Komplett überholt, dazu den Service und System-Schulung.

Natürlich liefern wir auch Ersatzteile und bieten für unsere Geräte Wartungsabkommen an.


Eine reichhaltige Liste an Sonder-Zubehör, wie z.B:

Spezialprobentische z.B. Heiztische oder Infrarot-Kamera-Systeme

ergänzen unser Angebot.


Zu unseren Leistungen gehört auch die Lieferung von  Element-Standards, (Neu/Gebraucht).


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Rasterelektronenmikroskop  ZEISS - EVO60EP   extended pressure

Bild 1: EVO 60EP
 Bild2: Carl Zeiss User Interface

REM: Ausstattung/Spezifikationen


Gerät mit Wolfram-Kathode

vorbereitet für Lab6 Betrieb. D.h. IGP Pumpsystem für Gunbereich und die benötigten Ventile sind vorhanden. Optional mit zusätzlicher LaB6 Kathode

(einfach Umsteckbar und via Software anwählbar)


Detektoren

      SE, VPSE, BSD-4Quadranten 

      Infrarot-Kamera, ChamberView mit infrarot Beleuchtung

External Control - für Remote Zugriff z.B. vom EDX System

Inklusiv Softwarelinzenz REMCON

Probentisch

      5 Achsen motorisiert, Kartesisch

      X = 100 mm, Y = 125 mm, Z = 123mm (35 mm motorisiert, 61mm mit Distanzstück),

      T = 0° - 90°, R = 360°(kontinuierlich)

Probenbühne mit Schwalbenschwanz-Aufnahme für verdrehsichere Montage der Proben

Karussel Probenteller 8/9 fach Stiftprobenteller


Joystickbox  zur Tischkontrolle/ und Maus


ZEISS User Interface / Hardware Bediener Interface

     Drehregler und Tasten zur komfortablen Bedienung,  inkl. PC-Keyboard


Probenkammer 420 mm (Ø) x 310 mm (h),

     8 Kammerflansche, unterschiedliche Größen

     an Kammer und Tür. Für die Anbringung von Zusätzen

Auflösung HV SE-Modus   

3.0nm mit Wolframkathode

2.0nm mit LaB6-Kathode

         XVP® RE-Modus
4.5nm @ 30kV (BSD – LM 4Q-BSD-Detektor)

Anregungs-Spannung    0.2 to 30 kV


Vergrößerungsbereich    5 to 1,000,000x


Sondenstrom    0,5pA – 5uA


EDX Port für X-ray Analyse     8.5 mm WD und 35° Abnahme-Winkel


Vakuum System - mit erweitertem Niederdruckbereich (EP)

     Vorvakuum - Standart:  Drehschieberpumpe, 2stufig, mit Ölnebelfilter

                          EP Mode: Drehschieberpumpe, 2stufig, mit Ölnebelfilter

     Hochvakuum -  Turbomolekular Pumpe

      IGP- für Gunbereich

      XVP® Druckbereich / EP Druckbereich

      5 - 750Pa with air

      5 - 3000Pa with air

      5 - 2000Pa wizh water vapour


PC Midi Tower

®WIN10 /  64Bit,      ,

      2x 24“ TFT,      PC Maus cordless

Zeiss SmartSEM® 64Bit /  div. Lizenzen


Bild Verarbeitung    
Auflösung: bis zu 3072 x 2304 Pixel
Signal Verarbeitung  mit  Integration oder Addition
Bild Anzeige  -  Flicker-frei XVGA Monitor mit SEM Bild angezeigt bei 1024 x 768 pixel


System Kontrol    SmartSEM™** mit Windows®, bedient durch Maus, Tastatur und Zeiss 
Mehrsprachiges GUI (Grafik Benutzer Interface)


OptiBeam®* Mode     Resolution, Depth, Analysis, Large Field


Das Gerät ist luftgekühlt

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EDX System   Brukker SDD

optional  / Spezifikation folgen..........in Arbeit


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Rasterelektronenmikroskop ZEISS - EVO40XVP variable pressure

REM: Ausstattung/Spezifikationen


Gerät mit Wolfram-Kathode


Detektoren

HV-SE,  BSD-4Quadranten

Infrarot-Kamera, ChamberView mit infrarot Beleuchtung


External Control - für Remote Zugriff z.B. vom EDX System

Inklusiv Softwarelinzenz REMCON


Probentisch

5 Achsen motorisiert, Kartesisch

X = 80 mm, Y = 80 mm, Z = 35 mm motorisiert

T = 0° - 90°, R = 360°(kontinuierlich)

Probenbühne mit Schwalbenschwanz-Aufnahme für verdrehsichere Montage der Proben

Karussel Probenteller 8/9 fach Stiftprobenteller


Maximales Probengewicht

bis zu 0,5 kg gekippt

bis zu 2,0 kg ungekippt

Maximale Probengröße

Höhe 100mm (ohne ZTR Modul)

Durchmesser 200mm bei Analysenabstand


Probenkammer 365 mm (Ø) x 220 mm (h),

7 Kammerflansche, unterschiedliche Größen

an Kammer und Tür. Für die Anbringung von Zusätzen


Joystickbox zur Tischkontrolle/ und Maus


ZEISS User Interface / Hardware Bediener Interface

Drehregler und Tasten zur komfortablen Bedienung, inkl. PC-Keyboard


Auflösung

HV SE-Modus  3.0nm mit Wolframkathode

XVP BSD 4.5nm (BSD – LM 4Q-BSD-Detektor)


Anregungs-Spannung 0.2 to 30 kV


Vergrößerungsbereich 7 to 1,000,000x


Sondenstrom 0,5pA – 5uA


EDX Port für X-ray Analyse 8.5 mm WD und 35° Abnahme-Winkel


Vakuum System - mit erweitertem Niederdruckbereich (EP)

Vorvakuum - Standart: Drehschieberpumpe, 2stufig, mit Ölnebelfilter

Hochvakuum - Turbomolekular Pumpe

XVP® Druckbereich  5 - 750Pa


PC Midi Tower

®WIN10 / 64Bit, ,

2x 24“ TFT, PC Maus cordless

Zeiss SmartSEM® 64Bit / div. Lizenzen


Bild Verarbeitung
Auflösung: bis zu 3072 x 2304 Pixel
Signal Verarbeitung mit Integration oder Addition
Bild Anzeige- Flicker-frei XVGA Monitor mit SEM Bild angezeigt bei 1024 x 768 pixel


System Kontrol SmartSEM™** mit Windows®, bedient durch Maus, Tastatur und Zeiss
Mehrsprachiges GUI (Grafik Benutzer Interface)


OptiBeam®* Mode Resolution, Analysis, Large Field


Das Gerät ist luftgekühlt

 Bild2: Carl Zeiss User Interface


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LEO 400er Systeme

Sie betreiben noch ein LEO 400 Rasterelektronenmikroskop

Egal ob aus der Baureihe : 420, 430, 435VP, 438VP oder 440



Wir bieten Ihnen Service dazu an, oder auch nur Ersatzteile.

Bild 5: LEO 400er System

Unser reichhaltiges Ersatzteillager garantiert Ihnen noch einen jahrelangen Betrieb Ihres liebgeworden System


Fast alle Baugruppen noch ab Lager lieferbar

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und bei Target-Messtechnik

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