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Wir haben ständig eine Auswahl gebrauchter Geräte im Angebot
Rasterelektronenmikroskope / Heiztische / Sputteranlagen
Chamber View-Infrarot Kamera´s
Wir bieten gebrauchte Rasterelektronen-Mikroskope, ( REM ) an. Komplett überholt, dazu den Service und System-Schulung.
Natürlich liefern wir auch Ersatzteile und bieten für unsere Geräte Wartungsabkommen an.
Eine reichhaltige Liste an Sonder-Zubehör, wie z.B:
Spezialprobentische z.B. Heiztische oder Infrarot-Kamera-Systeme
ergänzen unser Angebot.
Zu unseren Leistungen gehört auch die Lieferung von Element-Standards, (Neu/Gebraucht).
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Zeiss SUPRA™ 40 GEMINI® FE-SEM
Geräte: Ausstattung / Spezifikationen
Zeiss-SmartSEM Steuerungs-Software® + PC mit WIN10® Betriebssystem
Elektronenquelle: Schottky Feld Emitter / Emitter "run up" / automatisch / kontrolliert
Säule und Linsen: Patentierte Gemini ® elektrostatisches Linsensystem
Fokussierbereich von 1mm bis 50mm / abhängig von den Arbeitsbedingungen
Stigmator: Elektro-magnetisch, 8 polig
Blenden: Mehrlochblende, Software anwählbar
Probenkammer: 330mm Durchmesser innen und 270mm hoch
Flansche: 6 Flansche an der Kammer
2 35° Abnahmewinkel für analytische Gerät wie EDX
Analytischer Arbeitsabstand: 8,5mm
Anti Vibrations System mit "auto leveling"
Probentisch: 5-Achsen motorisiert, euzentrisch
X = 130mm
Y = 130mm
Z = 50mm
T = -3 bis 70°
R = 360° kontinuierlich
Probengewicht: bis zu 0,5kg
Touch Alarm mit Audiosignal und Bildschirmwarnung
Tischkontrolle: Dual Joystick Box / Soft-joystick
Probenmontage: "Quick Fit" System
Detektoren:
SE Everhart-Thornly-SE mit Kollektor (-250V bis 400V)
In-Lens High Efficency scintillator Detector
ASB Rückstreudetektor, Lens mounted
SCA Probenstrommeßgerät
Chamber View CCD Kamera mit IR Beleuchtung
Signal Eingänge 4
Auflösung bei WD 2mm Arbeitsabstand
1.0 nm @ 20 kV
1.3 nm @ 15 kV
1.5 nm @ 10 kV
2.1 nm @ 1 kV
5.0 nm @ 200 V
Beschleunigungsspannung von: 0.1 - 30 kV /kontinuierlich in 10 Volt Schritten
Proben Strom Bereich : 4 pA - 10 nA, 20 nA mit Option: High Current / Depth of Field module.
Stabilität: Besser als 0.2 %/h.
Vergrößerungsbereich : 12 - 900,000x / kontinuierlich
Gerätesteuerung: Software Windows10® / CZ SmartSEM® / diverse Lizenzen
Hardware CZ User Interface / Dual Joystick Box und Maus
Raster-Scanning Mode: 15 Geschwindigkeiten
Rauschunterdrückung: Kontinuierliche Bildaddition
Frame und Line Integration
Pixel Averaging
Reduziert Raster (Größe und Position) einstellbar
Spot Mode / Line Scan
Scan Rotation / Kippungs-Korrektur
Datenzone: Standard und Kundenspezifisch
Bildbeschriftung
Messen: Diverse Messfunktionen auf dem Bildschirm
Vakuum System / ölfrei
Automatisch arbeitendes Vakuum-System
Vorpumpe - Scrollpumpe / 10m3/h
Turbopumpe - 300l/sek
Ionen Getter Pumpe
Vakuum Messung Penning
Gerät wird mit neuem FE-Tip geliefert
Umlaufkühler Wasser / Luft
Ein Auszug aus den Gerätespezifikationen, ohne den Anpsruch auf Vollständigkeit
Wir bieten zu unseren Geräten:
Garantie
Lieferung
Installation und Einweisung
Die angegebenen Gerätespezifikationen sind den Hersteller Info´s entnommen, keine Garantie
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Rasterelektronenmikroskop ZEISS - EVO40XVP variable pressure
Geräte: Ausstattung / Spezifikationen
Zeiss-SmartSEM Steuerungs-Software® + PC mit WIN10® Betriebssystem
Gerät mit Wolfram-Kathode
Detektoren
HV-SE, BSD-4Quadranten
Infrarot-Kamera, ChamberView mit infrarot Beleuchtung
External Control - für Remote Zugriff z.B. vom EDX System
Inklusiv Softwarelinzenz REMCON
Probentisch
5 Achsen motorisiert, Kartesisch
X = 80 mm, Y = 80 mm, Z = 35 mm motorisiert
T = 0° - 90°, R = 360°(kontinuierlich)
Probenbühne mit Schwalbenschwanz-Aufnahme für verdrehsichere Montage der Proben
Karussel Probenteller 8/9 fach Stiftprobenteller
Maximales Probengewicht
bis zu 0,5 kg gekippt
bis zu 2,0 kg ungekippt
Maximale Probengröße
Höhe 100mm (ohne ZTR Modul)
Durchmesser 200mm bei Analysenabstand
Probenkammer 365 mm (Ø) x 220 mm (h),
7 Kammerflansche, unterschiedliche Größen
an Kammer und Tür. Für die Anbringung von Zusätzen
Joystickbox zur Tischkontrolle/ und Maus
ZEISS User Interface / Hardware Bediener Interface
Drehregler und Tasten zur komfortablen Bedienung, inkl. PC-Keyboard
Auflösung
HV SE-Modus 3.0nm mit Wolframkathode
XVP BSD 4.5nm (BSD – LM 4Q-BSD-Detektor)
Anregungs-Spannung 0.2 to 30 kV
Vergrößerungsbereich 7 to 1,000,000x
Sondenstrom 0,5pA – 5uA
EDX Port für X-ray Analyse 8.5 mm WD und 35° Abnahme-Winkel
Vakuum System - mit erweitertem Niederdruckbereich (EP)
Vorvakuum - Standart: Drehschieberpumpe, 2stufig, mit Ölnebelfilter
Hochvakuum - Turbomolekular Pumpe
XVP® Druckbereich 5 - 750Pa
PC Midi Tower
WIN10® / 64Bit, ,
2x 24“ TFT, PC Maus cordless
Zeiss SmartSEM® 64Bit / div. Lizenzen
Bild Verarbeitung
Auflösung: bis zu 3072 x 2304 Pixel
Signal Verarbeitung mit Integration oder Addition
Bild Anzeige- Flicker-frei XVGA Monitor mit SEM Bild angezeigt bei 1024 x 768 pixel
System Kontrol SmartSEM™** mit Windows®, bedient durch Maus, Tastatur und Zeiss
Mehrsprachiges GUI (Grafik Benutzer Interface)
OptiBeam®* Mode Resolution, Analysis, Large Field
Das Gerät ist luftgekühlt
Die angegebenen Gerätespezifikationen sind den Hersteller Info´s entnommen, keine Garantie
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Rasterelektronenmikroskop ZEISS-EVO60EP extended pressure
Geräte: Ausstattung / Spezifikationen
Zeiss-SmartSEM Steuerungs-Software® + PC mit WIN10® Betriebssystem
Gerät mit Wolfram-Kathode
vorbereitet für Lab6 Betrieb. D.h. IGP Pumpsystem für Gunbereich und die benötigten Ventile sind vorhanden. Optional mit zusätzlicher LaB6 Kathode
(einfach Umsteckbar und via Software anwählbar)
Detektoren
SE, VPSE, BSD-4Quadranten
Infrarot-Kamera, ChamberView mit infrarot Beleuchtung
External Control - für Remote Zugriff z.B. vom EDX System
Inklusiv Softwarelinzenz REMCON
Probentisch
5 Achsen motorisiert, Kartesisch
X = 100 mm, Y = 125 mm, Z = 123mm (35 mm motorisiert, 61mm mit Distanzstück),
T = 0° - 90°, R = 360°(kontinuierlich)
Probenbühne mit Schwalbenschwanz-Aufnahme für verdrehsichere Montage der Proben
Karussel Probenteller 8/9 fach Stiftprobenteller
Joystickbox zur Tischkontrolle/ und Maus
ZEISS User Interface / Hardware Bediener Interface
Drehregler und Tasten zur komfortablen Bedienung, inkl. PC-Keyboard
Probenkammer 420 mm (Ø) x 310 mm (h),
8 Kammerflansche, unterschiedliche Größen
an Kammer und Tür. Für die Anbringung von Zusätzen
Auflösung HV SE-Modus
3.0nm mit Wolframkathode
2.0nm mit LaB6-Kathode
XVP® RE-Modus
4.5nm @ 30kV (BSD – LM 4Q-BSD-Detektor)
Anregungs-Spannung 0.2 to 30 kV
Vergrößerungsbereich 5 to 1,000,000x
Sondenstrom 0,5pA – 5uA
EDX Port für X-ray Analyse 8.5 mm WD und 35° Abnahme-Winkel
Vakuum System - mit erweitertem Niederdruckbereich (EP)
Vorvakuum - Standart: Drehschieberpumpe, 2stufig, mit Ölnebelfilter
EP Mode: Drehschieberpumpe, 2stufig, mit Ölnebelfilter
Hochvakuum - Turbomolekular Pumpe
IGP- für Gunbereich
XVP® Druckbereich / EP Druckbereich
5 - 750Pa with air
5 - 3000Pa with air
5 - 2000Pa wizh water vapour
PC Midi Tower
®WIN10 / 64Bit, ,
2x 24“ TFT, PC Maus cordless
Zeiss SmartSEM® 64Bit / div. Lizenzen
Bild Verarbeitung
Auflösung: bis zu 3072 x 2304 Pixel
Signal Verarbeitung mit Integration oder Addition
Bild Anzeige - Flicker-frei XVGA Monitor mit SEM Bild angezeigt bei 1024 x 768 pixel
System Kontrol SmartSEM™** mit Windows®, bedient durch Maus, Tastatur und Zeiss
Mehrsprachiges GUI (Grafik Benutzer Interface)
OptiBeam®* Mode Resolution, Depth, Analysis, Large Field
Das Gerät ist luftgekühlt
Die angegebenen Gerätespezifikationen sind den Hersteller Info´s entnommen, keine Garantie
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